Forum AlphaDxD

Bonjour à tous.

Après quelques interrogations avec Onikenji sur ce fil, je viens ici chercher l'avis d'experts.

Comment se fait-il que sur un même boitier, deux objectifs de même type (genre 70-200/2.8) aient un AF qui accroche plus ou moins bien sa cible ?
Je ne parle pas que de la vitesse d'accroche qui dépend de la motorisation, ou non, de l'objo et de sa conception ; mais aussi de la "sensibilité" de l'accroche.

Au plaisir de vous lire, car je me pose la question depuis longtemps.

Je m'abonne ! Hâte d'avoir les réponses

Je me lance sans filet:

La formule optique et la qualité des lentilles doivent y jouer un rôle, l'AF se fait toujours à pleine ouverture. Si une optique présente un piqué supérieur à pleine ouverture par rapport à une autre, son pouvoir discriminant sera meilleur; elle devrait donc avoir une meilleure faculté d'accroche sur un contour qu'une autre...

Pour une même formule optique, voire deux optiques supposées identiques (marque, modèle,...) les tolérances et écarts dimensionnels, géométriques et d’états de surface sur les composants à la fabrication ainsi que l'assemblage de ces derniers sont des paramètres non négligeables non plus qui peuvent expliquer des différences (même si elles sont en théorie très faibles). Un exemple pratique de ce phénomène est la différence de back/front focus que l'on peut mesurer pour deux optiques identiques (marque, modèle) sur un même boitier.

Je préfère la deuxième partie de ton explication. Parce que si ça dépendait du piqué, mon Tamron 70-200/2.8 accrocherais mieux qu'un 70-200/2.8 G ou Sigma HSM. Hors ce n'est pas le cas !

Flash a écrit :La formule optique et la qualité des lentilles doivent y jouer un rôle, l'AF se fait toujours à pleine ouverture. Si une optique présente un piqué supérieur à pleine ouverture par rapport à une autre, son pouvoir discriminant sera meilleur; elle devrait donc avoir une meilleure faculté d'accroche sur un contour qu'une autre...

Je suis assez d'accord mais plus pour un AF à détection de contraste. Je ne sais pas trop à quel point sont discriminant les barrettes des collimateurs de "nos" modules AF à détection de phase.

Flash a écrit :Pour une même formule optique, voire deux optiques supposées identiques (marque, modèle,...) les tolérances et écarts dimensionnels, géométriques et d’états de surface sur les composants à la fabrication ainsi que l'assemblage de ces derniers sont des paramètres non négligeables non plus qui peuvent expliquer des différences (même si elles sont en théorie très faibles). Un exemple pratique de ce phénomène est la différence de back/front focus que l'on peut mesurer pour deux optiques identiques (marque, modèle) sur un même boitier.

Là par contre je ne comprends pas trop comment les erreurs de tolérances pourraient jouer sur la vitesse de l'AF... ?


Et merci de te pencher la la question !!

Onikenji a écrit :Je préfère la deuxième partie de ton explication. Parce que si ça dépendait du piqué, mon Tamron 70-200/2.8 accrocherais mieux qu'un 70-200/2.8 G ou Sigma HSM. Hors ce n'est pas le cas !

Ben, pas moi. La dispersion de fabrication peut jouer, mais mon intuition (peut-être fausse) est que ce ne doit pas être un facteur majeur en tout cas entre deux objectifs de modèles/marques différents (sauf gros impact sur la qualité optique, tel un décentrement des lentilles sur l'axe optique qui induit un fort astigmatisme... mais dans ce cas, l'un des exemplaires est défectueux et doit être échangé, ou SAV!).

Simplement il n'y a pas que le piqué (et sans doute le piqué est-il peu important). Si on parle bien de l'AF des réflex (contraste de phase), tout ce qui joue sur le contraste des deux petits "pics" qui apparaissent sur le CCD de l'AF influe. Certes le piqué est un facteur, mais je pense plus au contraste même de l'objectif (bien plus qu'au microcontraste et à la résolution , le piqué étant une résultante du micro contraste et de la résolution), à l'effet d'un flare plus important sur l'un que sur l'autre, d'une aberration de sphéricité ou d'un chromatisme moins bien corrigés (qui étale aussi les pics), de la distorsion différente (qui fait qu'un même point de la scène n'arrive pas au même "endroit" derrière chacun des deux objectifs)...
Bref deux formules optiques différentes ne corrigent pas les mêmes défauts de la même manière, et cela joue sur le contraste de phase (l'optimum étant sans doute différent que pour la qualité d la photo prise, qui elle dépend pas mal du piqué).

Sans compter que comparer l'accroche de deux objo de façon rigoureuse, c'est à dire sur le même boitier et avec le même sujet n'est pas si aisé que cela (sauf sujet fixe, ou mobile bien répétitif...)

Merci, ça, ça me plait bien comme réponse !

Par contre, comment ça se fait que des aberrations de sphéricité ou de la distorsion peuvent jouer sur le contraste d'un objectif ?

Manus a écrit :Là par contre je ne comprends pas trop comment les erreurs de tolérances pourraient jouer sur la vitesse de l'AF... ?

Je ne parle pas de vitesse comme facteur principal - mais d'accroche ou de précision de l'AF toutes autres choses restant égales.
Cependant un AF qui accroche mal, va probablement pomper plus et sera de fait plus lent par conséquence, non ?...

Pour la vitesse à algorithme égal, ce sera l'accélération du mouvement des lentilles qui va principalement faire la différence, donc in fine la motorisation me semble-t-il.

Flash a écrit :Je ne parle pas de vitesse comme facteur principal - mais d'accroche ou de précision de l'AF toutes autres choses restant égales.
Cependant un AF qui accroche mal, va probablement pomper plus et sera de fait plus lent par conséquence, non ?...

Pour la vitesse à algorithme égal, ce sera l'accélération du mouvement des lentilles qui va principalement faire la différence, donc in fine la motorisation me semble-t-il.

Oui pardon je prends des raccourci en "parlant", en fait je voulais dire par là qu'un AF qui accroche mieux sera plus rapide à faire le point.

Par ailleurs, que l'on soit en AF par détection de contratse ou de phase, c'est toujours l'optique au départ qui donne l'information lumineuse au capteur, donc sa qualité et son pouvoir discriminant reste fondamentaux pour l'AF....

Manus a écrit :Par contre, comment ça se fait que des aberrations de sphéricité ou de la distorsion peuvent jouer sur le contraste d'un objectif ?

Ben le moindre écart, par exemple, sur le rayon de courbure de la lentille peut fausser toute l'optique, regarde la difficulté avec laquelle on produit des lentilles pour les grands télescopes.
Il me semble évident que le degré de précision des lentilles industrielles utilisées dans nos objectifs et les tolérances acceptées dans la fabrication, en particulier au polissage, sont plus souples afin de garantir des prix décents ou acceptables à l'arrivée, mais en contre partie justifient des différences optiques d'un objectif à l'autre.

Flash a écrit :Par ailleurs, que l'on soit en AF par détection de contratse ou de phase, c'est toujours l'optique au départ qui donne l'information lumineuse au capteur, donc sa qualité et son pouvoir discriminant reste fondamentaux pour l'AF....

C'est vrai tu as raison, et je pensais, visiblement à tord, que la qualité de l'optique serait plus importante avec un AF à détection de contraste.

Flash a écrit :Ben le moindre écart, par exemple, sur le rayon de courbure de la lentille peut fausser toute l'optique, regarde la difficulté avec laquelle on produit des lentilles pour les grands télescopes.
Il me semble évident que le degré de précision des lentilles industrielles utilisées dans nos objectifs et les tolérances acceptées dans la fabrication, en particulier au polissage, sont plus souples afin de garantir des prix décents ou acceptables à l'arrivée, mais en contre partie justifient des différences optiques d'un objectif à l'autre.

Je pensais que ces défauts optiques ne jouaient que sur la géométrie de l'image. Mais effectivement si une tache lumineuse est distordue, c'est un peu comme si elle était floue.

C'est même pire.

Bon, c'est vrai que pour la MaP en photoastro, on a l'habitude de minimiser "à la main" la 'largeur à mi-hauteur" de la courbe en cloche qui traduit l'étalement spatial sur le capteur de l'image d'une étoile (source lumineuse théoriquement ponctuelle. Les déformations non régulières/non symétriques (astimatisme) de l'optique rendent l'opération plus complexe (le pic n'est plus régulier/symétrique). Sauf que là, on travaille directement sur l'image du sujet -car on dispose de sources ponctuelles sur fond noir que sont les étoiles-, tandis qu'un boitier photo travaille sur les pics dérivés de transitions (contours) dans l'image.

Effectivement toutes ces aberrations optiques font que les mêmes rayons ne convergent pas au même endroit, donc diminuent le contraste par rapport au fond des deux pics jumeaux que le système AF fait apparaitre sur la barette CCD d'AF. La distance entre ces deux pics comparée à l'écart qu'ils doivent avoir quand la MaP est bonne permettant au logiciel du boitier de déterminer à la fois l'ampleur du déplacement du groupe mobile de lentille et sa direction (selon que les pics sont trop rapprochés ou trop écartés).

Et bien sur, sur deux objectifs de deux modèles/marques différents, pour la rapidité, la réalisation mécanique du groupe mobile (plus ou moins lourd, avec plus ou moins de lentilles mobiles, nécessitant un déplacement plus ou moins grand pour la même correction de MaP) influe certainement au moins autant, voire beaucoup plus que les différence dans l'optique. Ainsi que la plage totale de mise au point (donc la distance de MaP mini, la quasi totalité des objectifs allant de l'autre coté jusqu'à l'infini).

Tellement évident, que je n'ai pas pensé à le préciser (désolé), mais la question et le début de la discussion semblaient se focaliser sur les seuls aspects optiques et l'accroche sur la barette CCD du collimateur AF (pas lu la discussion en lien qui a suscité la question je vais y aller!, et le cas aussi cité de deux exemplaires du même objectif élimine les différences de conception mécaniques, qui sont alors les mêmes).

Pour les mêmes raisons, les comparaisons ne peuvent être valables que sur un même boitier, sans cela la conception des moteurs d'entraînement des boitiers pour la rapidité, et leurs algorithmes de calcul de l'AF pour la détection et la rapidité deviennent certainement prépondérants.
En cas de sujet peu discriminant, sur lequel l'AF a du mal à "accrocher", cf. par ex. les tests de Mero sur 70-400 SSM sur l'alpha700 (à 400mm private joke pour ceux qui ont suivi à l'époque), qui mettaient en évidence que selon les situations, l'alpha 700 utilisait différentes stratégies de recherche du point avec des modes rapide et lent pour parfois d'abord dégrossir le problème et trouver un début d'accroche, puis faire le point de façon précise.

D'une façon générale, je pense que plus les pics jumeaux correspondant à un même détail sont formés et ressortent du fond, plus l'AF les détectera facilement et pourra faire la MaP plus vite. Donc des compromis à trouver dans les algorithmes (et qui dépendent aussi des réalisations physiques) pour trouver la meilleure stratégie entre prendre plus ou moins son temps pour détecter avant de lancer un déplacement du groupe mobile...

Deux remarques après avoir lu la discussion en lien (effectivement il faut bien dissocier ce qui concerne la détection, et ensuite la commande de péplacement duy groupe mobile).

1) Toutes choses égales par ailleurs, plus de luminosité de l'optique n'est pas synonyme d'accrochage plus facile ou plus rapide, du moins en dehors d'une certaine plage.
Tous les constructeurs de boitiers, Sony à partir de l'alpha700 me semble-t-il, ont introduit des collimateurs "spécial objectif grande luminosité" (supérieure à 2,8) qui améliore l'AF pour les objo à grande ouverture.
Sans doute le système de contraste de phase ne fonctionne-t-il que dans une plage assez étroite (entre 2,8 et 5,6), une luminosité trop grande "l'éblouissant" ? (étalement trop grand des pics obtenus diminuant la précision de la position du sommet??).

2) SSM ne signifie pas forcément plus rapide (même s'il est synonyme d'allègement des masses à déplacer). On avait vérifié à plusieurs du forums que sur un alpha700, le 70-200/2,8 SSM n'avait pas un AF plus rapide que le 80-200/2,8 Minolta HS (malgré le coté char lourd et le bruit de l'AF de ce dernier !)

C'est vrai que j'avais zappé la conception même de la formule optique et du poids à déplacer qu'elle engendre...

En fait grâce à ta réponse je me rends compte à quel point c'est difficile de comparer (un peu rigoureusement) les performances AF d'un objectif, en fait je ne suis pas sûr que ça veuille dire quelque chose... Bien que dans beaucoup de tests on parle de ces fameuses perfs de l'optique.